Lineært testkammer for rask temperaturendring:Brukes til å teste produktytelse under raske temperaturendringer og ekstreme temperaturforhold. Egnet for tilpasningsdyktighetstesting av komplette elektroniske og elektriske produkter og komponenter under raske eller gradvise temperaturendringer, spesielt for testing av miljøspenningsscreening (ESS) av elektroniske og elektriske produkter.
Egnet for testing av miljøspenningsscreening (ESS) av elektroniske og elektriske produkter, samt temperaturspenningsdeteksjon av prøvestykker under raske eller gradvise temperaturendringer, temperatur- og fuktighetsscreening, pålitelighetstesting, ytelsestesting, værtesting og lagring ved høy og lav temperatur. Vanlige temperaturrampehastigheter inkluderer 5°C/min, 10°C/min, 15°C/min, 20°C/min og 25°C/min.
Bruksområder:
Halvlederbrikker, vitenskapelige forskningsinstitusjoner, kvalitetsinspeksjon, ny energi, optoelektronisk kommunikasjon, romfart og militærindustri, bilindustri, LCD-skjerm, medisinsk og annen teknologiindustri.
Test standarder:
GB/T 2423.1 Testmetode for lav temperatur, GJB 150.3 Testmetode for høy temperatur, GB/T 2423.2 Testmetode for høy temperatur, GJB 150.4 Test for lav temperatur, GB/T2423.34 Testmetode for fuktighetssyklus, GJB 150.9 Fuktighetstestmetode, IEC60068-2 Testmetode for temperatur og fuktighet, MIL-STD-202G-103B Fuktighetstest
Produktets egenskaper:
1. Produktet oppfyller både lineære og ikke-lineære krav til temperaturramping.
2. Den oppfyller kravene til temperaturrampehastighet på 5 °C / min til 30 °C / min.
3. Valgfrie funksjoner inkluderer flytende nitrogen, fuktig varme og antikondens.
4. Ved å bruke elektronisk ekspansjonsventilteknologi og et innovativt kontrollsystem oppnår produktet energibesparelser på over 45%.
