WBE-KSH1000/Testkammer for rask temperaturendring

Teststykket kan utsettes for temperaturspenningstesting (ESS), temperatur- og fuktighetsscreening, pålitelighetstesting, etc. Vanlige temperaturrampehastigheter er 5°C/min, 10°C/min, 15°C/min, 20°C/min og 25°C/min.

Bruksområder:

Halvlederbrikker, vitenskapelige forskningsinstitusjoner, kvalitetsinspeksjon, ny energi, optoelektronisk kommunikasjon, romfart og militærindustri, bilindustri, LCD-skjerm, medisinsk og annen teknologiindustri.

Test standarder:

GB/T 2423.1 Testmetode for lav temperatur, GJB 150.3 Testmetode for høy temperatur, GB/T 2423.2 Testmetode for høy temperatur, GJB 150.4 Testmetode for lav temperatur, GB/T2423.34 Testmetode for fuktighetssyklus, GJB 150.9 Fuktighetstestmetode, IEC60068-2 Testmetode for temperatur og fuktighet, MIL-STD-202G-103B Fuktighetstestmetode

Produktets egenskaper:

1. Produktet oppfyller både lineære og ikke-lineære krav til temperaturramping.
2. Den oppfyller kravene til temperaturrampehastighet på 5 °C / min til 30 °C / min.
3. Valgfrie funksjoner inkluderer flytende nitrogen, fuktig varme og antikondens.
4. Ved å bruke elektronisk ekspansjonsventilteknologi og et innovativt kontrollsystem oppnår produktet energibesparelser på over 45%.