Testkammer for rask temperaturendring (våt varme):Brukes til å teste produktytelse under raske temperaturendringer og ekstreme temperaturforhold. Brukes hovedsakelig i halvlederbrikker, vitenskapelige forskningsinstitusjoner, kvalitetsinspeksjon, ny energi, optoelektronisk kommunikasjon, romfart og militær industri, bilindustri, LCD-skjerm, medisinsk og annen teknologiindustri.
Egnet for testing av miljøspenningsscreening (ESS) av elektroniske og elektriske produkter, samt temperaturspenningsdeteksjon av prøvestykker under raske eller gradvise temperaturendringer, temperatur- og fuktighetsscreening, pålitelighetstesting, ytelsestesting, værtesting og lagring ved høy og lav temperatur. Vanlige temperaturrampehastigheter inkluderer 5°C/min, 10°C/min, 15°C/min, 20°C/min og 25°C/min.
Bruksområder:
Halvlederbrikker, vitenskapelige forskningsinstitusjoner, kvalitetsinspeksjon, ny energi, optoelektronisk kommunikasjon, romfart og militærindustri, bilindustri, LCD-skjerm, medisinsk og annen teknologiindustri.
Test standarder:
GB/T 2423.1 Testmetode for lav temperatur, GJB 150.3 Testmetode for høy temperatur, GB/T 2423.2 Testmetode for høy temperatur, GJB 150.4 Test for lav temperatur, GB/T2423.34 Testmetode for fuktighetssyklus, GJB 150.9 Fuktighetstestmetode, IEC60068-2 Testmetode for temperatur og fuktighet, MIL-STD-202G-103B Fuktighetstest
Produktets egenskaper:
1. Produktet oppfyller både lineære og ikke-lineære temperaturkontrollkrav.
2. Den oppfyller temperaturrampehastigheter på 5 °C til 30 °C / min.
3. Valgfrie funksjoner inkluderer flytende nitrogen, fuktig varme og antikondens.
4. Ved å bruke elektronisk ekspansjonsventilteknologi og et innovativt kontrollsystem gir produktet energibesparelser på over 30 %.
